1149.7-2022 - IEEE Standard for Reduced-Pin and Enhanced-Functionality Test Access Port and Boundary-Scan Architecture
- Språk
- Okänt
| Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
|---|---|---|---|---|
| uuuu-uuuu | Utgivningsland okänt / Ej specificerat | 978-1-5044-8875-4 |